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教職員生

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研討會論文
學年度99
論文名稱(篇名)The AB-Filling Methodology for Power-aware At-Speed Scan Testing
會議名稱2010 IEEE International Test Conference(ITC 2010)
會議開始時間2010-10-31
會議結束時間2010-11-05
發表年度2010
作者中文名 饒建奇
主辦單位IEEE Computer Society Test Technology Thchnical Council; IEEE Philadelpjia Section
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